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HATS™ 及 HATS²™资源

HATS™镀通孔可靠性测试技术早在2003年就得以使用，且在实际使用中已经有超过8000个试样设计。多年来，也发表了很多关于该技术及其优势的论文。点击以下链接阅读HATS™的相关问答或者下载由系统生成的测试报告示例，或查看发表的有关HATS™技术论文示例。

点击此处获取常见问题的答案

HATS™ 及 HATS²™文章
HATS²™为IPC/imec/ESA进行的微孔研究项目
电动汽车的工艺存活性、可靠性和稳健性试验
用于高加速PCB试验的一个更经济的新技术
无铅印制板的可靠性
用于PCB孔可靠性的高加速热冲击试验（HATS™）
用于高温组装层压板的评估
HATS²™媒体报道
使用新版HATS²技术的高速孔可靠性测试
通过当今环境中的可靠性和稳健性