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HATS²™技术

HATS²™技术发布于2020年并用于HATS™的系统更新。该更新新增的功能可按照IPC-TM-650 方法2.6.27B和其他客户自定义的回流焊曲线进行多次对流回流焊模拟试验,最高温可达260度,并包含实时电阻测量功能,用以探测在对流回流焊高温/膨胀时孔结构的开裂或分离,此类开裂或分离在低温时会再次机械连接上。有关HATS™ 及 HATS²™的更多详细信息,请访问我们 资源标题下的FAQ页面。

试验箱中最多可放置 72 张 IPC-2221 “D” 级试样

样品舱自动开关子系统

坚固耐用的计算机控制和监测系统

压缩空气加热系统将试验箱温度加热至 +265°C

用于测量和开关子系统的温控柜,最大限度地减少测试期间的设备漂移

质量流量控制器确保整个测试过程中的热流量保持稳定

压缩空气冷却系统将试验箱冷却至 -65°C

HATS²™技术也改进了HATS™的测量子系统,可进行高电流、毫欧级的精度、4线桥电阻测量。此项改进使得HATS™设备可对HATS²™的单孔测试试样(已获专利)进行测试。改进后的测量子系统也可以使HATS™设备中对流回流焊及热冲击/循环功能的测试试样数量达到72块IPC-2221B "D"型试样和36块传统或单孔HATS™试样。有关HATS™ 及 HATS²™的更多详细信息,请访问我们 HATS²™技术 标题下的HATS²™单孔页面 。

HATS²™技术在HATS™系统上的更新也包括全新的报告软件,客户可以通过图文表俱全的报告得到对测试结果更清楚的理解。有关HATS™ 及 HATS²™的更多详细信息,请访问我们资源标题下的报告示例页面。